歡迎訪問耀嘉科技有限公司官方網站!客戶對每件產品的放心和滿意是我們一生的追求,用我們的努力,解決您的煩惱!
Banner
首頁 > 產品中心 > 半導體失效分析系統-微光顯微鏡
IPHEMOS-MP倒置光發射顯微鏡 C10506-06-16

IPHEMOS-MP倒置光發射顯微鏡 C10506-06-16

產品詳情

iPHEMOS-MP倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統,通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置。

利用其獨特的倒置型設計,能夠便捷地進行樣品Backside觀察與分析,并可結合Tester進行動態分析。

詳細參數:

680

產品特點:

● 同時最多加裝兩臺高靈敏度相機,能夠同時完成光發射和熱發射偵測

● 設備可以加載多種激光
● 鏡頭切換轉塔最多可以加裝10種不同鏡頭

產品配置(可選配):

● 激光掃描系統 

● 高靈敏度近紅外相機進行光發射分析 

 (根據客戶樣品特點對不同波長范圍的光發射探測可以選配不同型號相機,InGaAs, C-CCD, Si-CCD, Emmi-X)

● 高靈敏度中紅外Thermal相機進行熱分析 

● 激光誘導阻值變化分析(OBIRCH)

● D-lock in

● Thermal Lock in

● EOP/EOFM

● Tilt Stage

● Nano Lens 進行高分辨率、高靈敏度分析 

● Navigation功能

● 連接測試機進行動態分析

● Laser Marker

連接示例:

           683

外形尺寸:

684

685



詢盤
美国18年19禁电影,美国大尺度电影,电影美国式紮忌6,尺度比较大能看的电影